需測試220nm處雜散光是因?yàn)椋?/div>
?、贀?jù)儀器學(xué)理論中的電光源理論,氘燈在220nm處能量很小,即信號(hào)很小,容易顯現(xiàn)雜散光;
②根根據(jù)量子光學(xué)理論,波長是能量的倒數(shù),波長短能量大,容易產(chǎn)生雜散光,而220nm處屬于短波部分;
③根據(jù)儀器學(xué)理論中的光電發(fā)射理論,光電倍增管在220nm處的光譜響應(yīng)(靈敏度)低,容易顯現(xiàn)雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的,因?yàn)?40nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調(diào)換濾光片的地方,此時(shí)容易產(chǎn)生雜散光。所以,對于分光光度計(jì)來講,應(yīng)該測試220nm和340nm兩處的雜散光。
雜散光的測試方法:
1、首先將參比液注入配對石英石吸收池,分別放置在參比池座和試樣池座內(nèi)。再測定波段掃描基線并使之平滑。
2、將減光片插入試樣光路的濾光片槽內(nèi),其讀數(shù)即為減光片的衰減值K,然后將減光片插入?yún)⒈裙饴返臑V光片座內(nèi),
3、將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液,插入試樣試樣池座中,在相應(yīng)的波段內(nèi)掃描、打??;在記錄紙的作標(biāo)上量取測定波長處的透光度,乘以衰減值K,即得各測定波長處的雜散光值。