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分光光度計(jì)的雜散光如何檢測?
更新時(shí)間:2019-05-24 點(diǎn)擊次數(shù):5076
        雜散光是分光光度計(jì)的一項(xiàng)重要指標(biāo),它是指與測試波長不同的其他波長的光。雜散光的存在對測量結(jié)果的影響很大,分析計(jì)算表明:由于雜散光的存在而引起的透射比測量誤差近似等于雜散光本身,由此可見雜散光是分光光度計(jì)的重要誤差來源之一。
  分光光度計(jì)產(chǎn)生雜散光的因很多,其較主要的原因大致有以下9個(gè)方面:
  1、灰塵沾污光學(xué)元件,如光柵、棱鏡、透鏡、反射鏡、濾光片等;
  2、光學(xué)元件被損傷,或光學(xué)元件產(chǎn)生的其他缺陷,如光柵、透鏡和反射鏡、棱鏡材料中的氣泡等;
  3、準(zhǔn)直系約部或有關(guān)隔板邊緣的反射;
  4、光學(xué)系統(tǒng)或檢測器沒有作適當(dāng)?shù)钠帘危?/div>
  5、熱輻射或熒光引起的二次電子發(fā)射;
  6、狹縫的缺陷;
  7、光束孔徑不匹配;
  8、光學(xué)系統(tǒng)的像差;
  9、單色器內(nèi)壁黑化處理不當(dāng)。
  分光光度計(jì)只測試220nm處的雜散光,
  不測試340nm處的雜散光,
  這樣是不正確的,
  需測試220nm處雜散光是因?yàn)椋?/div>
  ①據(jù)儀器學(xué)理論中的電光源理論,氘燈在220nm處能量很小,即信號(hào)很小,容易顯現(xiàn)雜散光;
  ②根根據(jù)量子光學(xué)理論,波長是能量的倒數(shù),波長短能量大,容易產(chǎn)生雜散光,而220nm處屬于短波部分;
  ③根據(jù)儀器學(xué)理論中的光電發(fā)射理論,光電倍增管在220nm處的光譜響應(yīng)(靈敏度)低,容易顯現(xiàn)雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的,因?yàn)?40nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調(diào)換濾光片的地方,此時(shí)容易產(chǎn)生雜散光。所以,對于分光光度計(jì)來講,應(yīng)該測試220nm和340nm兩處的雜散光。
  雜散光的測試方法:
  1、首先將參比液注入配對石英石吸收池,分別放置在參比池座和試樣池座內(nèi)。再測定波段掃描基線并使之平滑。
  2、將減光片插入試樣光路的濾光片槽內(nèi),其讀數(shù)即為減光片的衰減值K,然后將減光片插入?yún)⒈裙饴返臑V光片座內(nèi),
  3、將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液,插入試樣試樣池座中,在相應(yīng)的波段內(nèi)掃描、打??;在記錄紙的作標(biāo)上量取測定波長處的透光度,乘以衰減值K,即得各測定波長處的雜散光值。

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